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非线性集成电路检测

检测项目

1. 输入/输出特性:测试输入电压范围(±15V)、输出电压摆幅(0.5V~12V)、负载驱动能力(10mA~500mA)

2. 频率响应:测量-3dB带宽(1MHz~2GHz)、群延迟波动(≤50ps)、相位线性度(±1°)

3. 噪声系数:分析等效输入噪声电压(0.8nV/√Hz~5nV/√Hz)、信噪比(≥70dB)

4. 温度特性:验证工作温度范围(-55℃~+125℃)、温漂系数(≤50ppm/℃)

5. 失真度测试:总谐波失真THD(≤0.01%)、互调失真IMD3(≤-80dBc)

检测范围

1. 模拟乘法器:Gilbert单元结构器件、对数放大器

2. 压控振荡器(VCO):LC振荡电路、晶体振荡模块

3. 限幅放大器:宽带射频放大器、自动增益控制电路

4. 检波器模块:包络检波器、同步检波电路

5. 函数发生器:三角波/方波发生芯片、PWM调制器件

检测方法

1. GB/T 17573-1998《半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

2. IEC 60748-4-3:2017《半导体器件集成电路第4-3部分:接口电路》

3. ASTM F1241-22《半导体器件非线性特性测试规程》

4. GB/T 16464-2021《微电子器件试验方法和程序》

5. ISO 11452-8:2020《道路车辆窄带辐射电磁能抗扰性试验第8部分:集成电路》

检测设备

1. Keysight B1500A半导体参数分析仪:IV/CV特性测试

2. Rohde & Schwarz FSUP信号源分析仪:相位噪声测量(频率范围26.5GHz)

3. Tektronix MSO68B混合信号示波器:12位ADC, 8GHz带宽

4. Advantest V93000 SoC测试系统:多参数并行测试(256通道)

5. Chroma 3380P功率器件测试仪:动态负载电流测试(±200A)

6. Agilent N9020A MXA频谱分析仪:谐波失真测量(3Hz~26.5GHz)

7. ThermoStream T-2600温度冲击箱:-80℃~+225℃快速温变

8. Cascade Summit 12000探针台:晶圆级参数测试(0.1μm定位精度)

9. Fluke 8588A参考级万用表:8.5位分辨率, ±0.0006%基本精度

10. NI PXIe-4139源测量单元:100pA~10A电流输出能力

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

非线性集成电路检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。